Compacte fotorelais voor testapparatuur

Typische toepassingen zijn onder meer geautomatiseerde testapparatuur (ATE), meetinstrumenten en testers voor snelle logische IC’s, geheugens en SoC’s, evenals randapparatuur voor testomgevingen voor halfgeleiders. Testsystemen voor halfgeleiders voeren spanningen en stromen toe aan elke pin van het te testen onderdeel om de juiste werking te verifiëren. Hiervoor moeten zowel de voedings- als de signaalpaden voor elke pin betrouwbaar worden geschakeld. Fotorelais – solid-state relais met MOSFET-uitgangen – vinden hier veelvuldig toepassing. De lekstroom van het relais in de uitgeschakelde toestand kan echter de meetresultaten beïnvloeden, waardoor het van belang is deze zo laag mogelijk te houden. Tegelijkertijd vereisen functies zoals voeding en belastingsregeling dat er hogere stromen kunnen worden verwerkt. Dankzij een geoptimaliseerd ontwerp van het MOSFET-uitgangsgedeelte bereiken zowel de TLP3491 als de TLP3487 een hoge stroom in de ingeschakelde toestand van 2,0 A (max.) en een lage lekstroom in de uitgeschakelde toestand van respectievelijk 1 nA bij 40 V en 10 nA bij 60 V. Het werktemperatuurbereik loopt van –40 tot +110 °C.