Uitbreiding van het MSM II-platform
Met de MSM II XP breidt SCHURTER het beproefde MSM II-platform uit met een…
De innovatieve sensor surfaceCONTROL 3D 3500 van Micro-Epsilon wordt gebruikt voor zeer nauwkeurige inline 3D-metingen. Met een herhalingsnauwkeurigheid van maximaal 0,4 µm in de z-richting bereikt de sensor een nieuwe prestatieklasse.
De snapshot-sensor maakt 3D-evaluaties van geometrie, vorm en oppervlak mogelijk en wordt gebruikt voor inline-metingen. Tegelijkertijd is er met 3DInspect een geïntegreerde softwareoplossing beschikbaar voor het gehele 3D-sensorportfolio van Micro-Epsilon. In slechts 0,2 seconden kunnen metingen over het volledige oppervlak worden uitgevoerd met behulp van een enkele momentopname. Terwijl conventionele systemen met 2.5D werken, maakt de Valid3D-technologie van Micro-Epsilon een volledige 3D-evaluatie mogelijk. Met een z-herhalingsnauwkeurigheid tot 0,4 µm worden nieuwe normen in de 3D-meettechniek bereikt en worden de kleinste hoogteverschillen en afwijkingen van de vlakheid betrouwbaar geregistreerd.

Met de MSM II XP breidt SCHURTER het beproefde MSM II-platform uit met een…
Vanaf 20 januari 2027 verandert er veel voor machinebouwers. Dan wordt cybersecurity een vast…
Voor de zwaarste industriële toepassingen presenteert AE Sensors de nieuwe MicroStrain MV7-AR inertial measurement…
