Grijpermodule
De nieuwe GM01-grijpermodule van LinMot heeft een speciale opstelling van de twee duurzame roestvrij…
Voor het testen van vermogenhalfgeleiders, zoals dioden, FET's en IGBT's, alsook voor het beproeven van nieuwe materialen, zoals galliumnitride (GaN), siliciumcarbide (SiC) en andere samengestelde halfgeleidermaterialen en componenten, dient model 2657A van Keithley Instruments.
Dit instrument wordt nader door de fabrikant omschreven als een ‘high power system SourceMeter’ en is tevens bruikbaar voor het onderzoeken van snelle stoorspanningen en het uitvoeren van doorslag- en lektesten van allerlei elektronicacomponenten bij testspanningen tot 3 kV. Daarvoor beschikt het instrument over een ingebouwde voedingsbron die 3 kV bij 180 W levert. Het nauwkeurige en snelle 6,5-digit meetsysteem biedt een resolutie van 1 fA (femto-ampère) voor het meten van de kleine lekstromen van vermogenhalfgeleiders. Het instrument beschikt over een zeer flexibele, vierkwadrant spanning en stroom source/load, gekoppeld aan nauwkeurige spanning- en stroommeters. De functies van meerdere instrumenten zijn in een complete rekbehuizing gecombineerd voor het opnemen van halfgeleiderkarakteristieken, een nauwkeurige voeding, stroombron, 6,5-digit DMM, willekeurige golfvormgenerator, impulsgenerator voor spanning of stroom, elektronische belasting en triggervoorzieningen. Het geheel is uitbreidbaar tot een meerkanaals, strak gesynchroniseerd systeem via de TSP-Link technologie van Keithley. Het meetsysteem kan een gelijkstroomvermogen leveren (source) of geleiden (sink) van 180 W (±3 kV bij 20 mA, ±1500 V bij 120 mA) en bied allerlei digitaliserende en integrerende meetmodi.
De nieuwe GM01-grijpermodule van LinMot heeft een speciale opstelling van de twee duurzame roestvrij…
De compacte bedienings- en signaleringsapparaten PIToe kunnen op verschillende manieren worden gebruikt om installaties…
De NAI 8273 IO-Link drukopnemer is ontworpen als een smart sensor en geeft relevante…