Vier het 12-jarig jubileum van PCBWay en profiteer van exclusieve aanbiedingen
Vier in juli het 12-jarig jubileum van PCBWay met een evenement dat een hele…
De reflectCONTROL-sensoren van Micro-Epsilon maken gebruik van fasemetende deflectometrie voor de nauwkeurige analyse van reflecterende oppervlakken.
Daarbij wordt een strepenpatroon op het oppervlak geprojecteerd en wordt de weerspiegeling ervan door twee camera’s vastgelegd. De sensor berekent aan de hand van de beelden een 3D-puntenwolk van de oppervlaktestructuur, waardoor oneffenheden, krassen en andere defecten zichtbaar worden. De sensor kan stationair worden geïntegreerd of met een robot over het meetobject worden geleid. Lokale afwijkingen of defecten worden geëvalueerd en weergegeven in de CAD-gegevens. De RCS130-160 3D HLP is speciaal geoptimaliseerd voor meet- en inspectietaken in productielijnen en beschikt over een GigE Vision-interface. Dit betekent dat de gegevens GenICam-compatibel zijn, waardoor naadloze integratie in bestaande beeldverwerkingssystemen mogelijk is. Dankzij de verbeterde camera-opstelling levert de sensor scherpere 2D-beelden dan zijn voorganger, alsmede een 3D-weergave van sterk reflecterende oppervlakken. Hiermee kan de topologie van de componenten (bijvoorbeeld vlakheid, doorbuiging en kromming) worden bepaald. De hoge z-resolutie in het nanometerbereik en de uitstekende herhaalbaarheid van <1 µm zorgen ervoor dat de sensor tot 5 miljoen 3D-datapunten kan leveren.

Vier in juli het 12-jarig jubileum van PCBWay met een evenement dat een hele…
De TF1 is een lineaire positieopnemer met een inductief meetprincipe. Hij ideaal voor toepassingen…
Hoe kan men als organisatie overzicht over complexe productieprocessen houden, terwijl men tegelijk voldoet…
