Halfgeleidertestsystemen

Dit vindt plaats met de module per-pin parametric measurement unit (PPMU) en met de module source measure unit (SMU). De PXIe-6556 snelle digitale I/O op 200 MHz met PPMU, de PXIe-4140 en PXIe-4141 vierkanaals SMU’s verlagen de investeringen in instrumentatie, reduceren de testtijden en verhogen de gemend-signaal flexibiliteit voor een groot aantal componenten die moeten worden getest. Met de PXIe-6556 digitale I/O-module kunnen digitale patronen tot 200 MHz worden opgewekt of ingelezen. Ook kunnen parametrische gelijkstroommetingen worden uitgevoerd met een nauwkeurigheid van 1% op dezelfde pen, hetgeen de bekabeling vereenvoudigt, de testtijd reduceert en de dichtheid van de tester verhoogt. Verder kan het tijdsverloop, dat ontstaat door verschillen in de bekabeling en lengte daarvan naar het te testen object, vrijwel worden vereffend met de ingebouwde kalibratiefunctie die de timing automatisch corrigeert voor deze verschillen.
De PXIe-4140/41 SMU-modulen beschikken over vier SMU-kanalen per PXI Express kaartconnector en tot 68 SMU-kanalen per PXI-behuizing met een rekhoogte van 4U om het testen te vereenvoudigen van componenten met veel pennen. De bemonsteringssnelheid gaat tot 600.000 samples per seconde. De SourceAdapt-techniek stemt de SMU-response automatisch af op elke willekeurige belasting, zodat maximale stabiliteit en minimale overgangstijden worden bereikt. Met de traditionele SMU-technieken is dit niet mogelijk. 

www.ni.com/lp/semiconductor