Uitbreiding van het MSM II-platform
Met de MSM II XP breidt SCHURTER het beproefde MSM II-platform uit met een…
Het meetsysteem voor metaalbanden is door Micro-Epsilon fundamenteel verbeterd. De nieuwe installatie voor het meten van dikte en profiel biedt een grote meetspleet van 190 mm die daarmee bijna is verdrievoudigd.
Ook golvende of trillende metaalbanden kunnen daarmee betrouwbaar worden gemeten. In plaats van de gangbare puntlasersensoren zijn nu profielsensoren toegepast die aanzienlijk beter de meest uiteenlopende bandmaterialen meten en het bewakingsbereik belangrijk vergroten. De installatie maakt diktemetingen met een nauwkeurigheid van 0,01 mm mogelijk en dient voor processtabilisatie, kwaliteitsbewaking en documentatie. Door het toepassen van een speciaal high-tech lichtscherm is betrouwbare kantdetectie gerealiseerd, ook bij scheefgetrokken banden. Dit levert een robuuste breedtemeting met de hoogste betrouwbaarheid op. Ook afzonderlijke stroken binnen het hele proces tot en met de rollen voor aflevering zijn documenteerbaar. Dankzij de optische meetmethode werkt de installatie, in tegenstelling tot de veel toegepaste radiometrische methode, volledig stralingsvrij en is legering- en materiaalonafhankelijk. De meetinstallatie voor dikte- en profielmeting wordt voor banden tot een breedte van 4 meter en een dikte tussen circa 1 mm en 12 mm toegepast. In het productieproces loopt de metaalband door de meetspleet van de installatie. Tijdens de meting traverseert de meetkop continu over de band, waardoor een betrouwbare indruk over dikte, profiel en afmetingen van de hele band ontstaat.

Met de MSM II XP breidt SCHURTER het beproefde MSM II-platform uit met een…
Vanaf 20 januari 2027 verandert er veel voor machinebouwers. Dan wordt cybersecurity een vast…
Voor de zwaarste industriële toepassingen presenteert AE Sensors de nieuwe MicroStrain MV7-AR inertial measurement…
