Overige meetinstrumenten

21 mei 2013

Digitizer en jitteranalyse

Door National Instruments is de digitizer PXIe-5162 aangekondigd en verbeteringen voor de jitter-analysetoolkit onder LabVIEW. De digitizer, met een verticale resolutie van 10 bits en een bemonsteringssnelheid van 5 GSps op een kanaal of 1,25 GSps op vier kanalen tegelijkertijd, maakt metingen mogelijk die vier keer zo snel zijn als de verticale resolutie van een traditionele 8-bits oscilloscoop.

Met een bandbreedte van 1,5 GHz kunnen technici de digitizer gebruiken in combinatie met LabVIEW en de bijbehorende jitteranalysetoolkit. Deze toolkit biedt een functiebibliotheek die is geoptimaliseerd voor het snel uitvoeren van jittermetingen, oogdiagrammen en faseruismetingen die nodig zijn in geautomatiseerde validatie- en productietestomgevingen. Door de vierkanaals digitizer onder te brengen in een 3U PXI-systeembehuizing, kunnen technici een oscilloscoop bouwen met maximaal 68 gesynchroniseerde kanalen. Er zijn voorbeeldprogramma’s voor het meten van oogdiagrammen, maskers voor het scheiden van willekeurige en deterministische jitter (RJ/DJ) via zowel dual-Dirac als op spectrum gebaseerde scheidingsmethoden

Beurs Electronics & Automation 2013, stand 8B025

Contactgegevens
Meer nieuws van National Instruments
Datalogger-software
CompactRIO-platform uitgebreid
Robuust data-acquisitiesysteem
Toon volledig overzicht
Meer nieuws over overige meetinstrumenten
Vernieuwde isolatieweerstandtesters
Akoestische beeldvormingscamera
Hoogspenning-isolatietester
Toon volledig overzicht
Voorgestelde leveranciers in overige meetinstrumenten
AE Sensors
EEMC
Simac Electronics
Rohde & Schwarz Benelux B.V.
Elincom Electronics B.V.

Uitgelicht nieuws