Uitbreiding van het MSM II-platform
Met de MSM II XP breidt SCHURTER het beproefde MSM II-platform uit met een…
Voor de meting van lengtes en snelheden in processen bestaan talloze oplossingen. Een nadeel is echter in veel gevallen dat er fysiek contact met het materiaal of de transportbaan nodig is.
Speciaal voor die toepassingen waarbij dat niet mogelijk of wenselijk is, heeft Sick de optische lineaire snelheidsmeter OLV ontwikkeld. Deze meet lengtes en snelheden geheel contactloos met behulp van lasertechniek op basis van het dopplereffect. Contactloze meting heeft veel voordelen: een hoge herhalingsnauwkeurigheid, geen problemen met slip, geringere onderhoudskosten en een hoge mate van flexibiliteit (de sensor meet immers alles, ongeacht toestand of temperatuur). De belangrijkste gegevens op een rijtje: contactloze, materiaalonafhankelijke afstand- en snelheidsmeting; permanent gekalibreerd en onderhoudsvrij meetsysteem; meetnauwkeurigheid maximaal ±0,05%; gewicht ca. 1 kg; detectiebereik 120 mm (optioneel 240 mm); compacte afmetingen 167 x 94 x 39 mm (lxbxh); meetbereik 1,50…4800 meter per minuut; geschikt voor omgevingstemperaturen tot 45 °C zonder extra koeling; IP67-behuizing.
Met de MSM II XP breidt SCHURTER het beproefde MSM II-platform uit met een…
Vanaf 20 januari 2027 verandert er veel voor machinebouwers. Dan wordt cybersecurity een vast…
Voor de zwaarste industriële toepassingen presenteert AE Sensors de nieuwe MicroStrain MV7-AR inertial measurement…
