Overige opnemers/sensoren

Nauwkeurige 3D-oppervlaktecontrole

De reflectCONTROL-sensoren van Micro-Epsilon maken gebruik van fasemetende deflectometrie voor de nauwkeurige analyse van reflecterende oppervlakken.

Daarbij wordt een strepenpatroon op het oppervlak geprojecteerd en wordt de weerspiegeling ervan door twee camera’s vastgelegd. De sensor berekent aan de hand van de beelden een 3D-puntenwolk van de oppervlaktestructuur, waardoor oneffenheden, krassen en andere defecten zichtbaar worden. De sensor kan stationair worden geïntegreerd of met een robot over het meetobject worden geleid. Lokale afwijkingen of defecten worden geëvalueerd en weergegeven in de CAD-gegevens. De RCS130-160 3D HLP is speciaal geoptimaliseerd voor meet- en inspectietaken in productielijnen en beschikt over een GigE Vision-interface. Dit betekent dat de gegevens GenICam-compatibel zijn, waardoor naadloze integratie in bestaande beeldverwerkingssystemen mogelijk is. Dankzij de verbeterde camera-opstelling levert de sensor scherpere 2D-beelden dan zijn voorganger, alsmede een 3D-weergave van sterk reflecterende oppervlakken. Hiermee kan de topologie van de componenten (bijvoorbeeld vlakheid, doorbuiging en kromming) worden bepaald. De hoge z-resolutie in het nanometerbereik en de uitstekende herhaalbaarheid van <1 µm zorgen ervoor dat de sensor tot 5 miljoen 3D-datapunten kan leveren.

Meer nieuws van Micro Epsilon BeNeLux
Meer nieuws over overige opnemers/sensoren
Voorgestelde leveranciers in overige opnemers/sensoren

Uitgelicht nieuws