Inspectiesysteem voor assemblage, vermogensmodules en halfgeleiderproductie

Maar precisie gaat verder dan alleen beeldkwaliteit. Het gaat om het vermogen om defecten te identificeren en aan te pakken met een hoge nauwkeurigheid en een grotere scherptediepte. Of het nu gaat om een subtiele fout of een opvallende onvolkomenheid, men kan er zeker van zijn dat niets ontsnapt aan dit geavanceerde inspectiesysteem. Wat de iX7059 One onderscheidt, is zijn veelzijdigheid. Met x-ray inspectiemogelijkheden in 2D, 2,5D en 3D is het systeem uitgerust om te voldoen aan de uiteenlopende behoeften van moderne productie. Van afzonderlijke halfgeleiderassemblages met ingewikkelde interne structuren tot leadframetoepassingen die een uitgebreide analyse vereisen, dit systeem biedt de vereiste flexibiliteit.