Hoogwaardig inspectiesysteem

Maar precisie gaat verder dan alleen beeldkwaliteit. Het gaat om het vermogen om defecten nauwkeurig te identificeren. Hier biedt de iX7059 One een grote scherptediepte die een nieuwe maatstaf voor defectdetectie vormt. Of het nu gaat om een subtiele fout of een opvallende onvolkomenheid – niets ontsnapt aan de blik van dit geavanceerde inspectiesysteem. De iX7059 One is veelzijdig. Met x-ray inspectiemogelijkheden in 2D, 2,5D en 3D voldoet het systeem aan de uiteenlopende behoeften van moderne productie. Van afzonderlijke halfgeleiderapparaten met ingewikkelde interne structuren tot leadframetoepassingen die een uitgebreide analyse vereisen, dit systeem biedt flexibiliteit van standalone tot ongeëvenaarde 100% inline inspectie voor productieprestaties over de hele lijn.