Hard- en software voor het testen van halfgeleiders

Door het in de halfgeleiderindustrie al bekende digitale test-paradigma naar het open PXI-platform te brengen dat in halfgeleider-testsystemen wordt gebruikt, en dit uit te breiden met een krachtige en gebruikersvriendelijke patroon-editor en -debugger, kunnen gebruikers profiteren van geavanceerde PXI-instrumentatie voor het reduceren van hun testkosten en het verhogen van de doorvoersnelheid voor RF- en analoge IC’s. De NI PXIe-6570 digitale patroongenerator biedt de benodigde testmogelijkheden voor IC’s die worden aangetroffen in de toeleveringsketen van draadloze of IoT-apparaten, en dat met een voordelige prijs/pin-verhouding. Het instrument biedt patroonverwerking met een snelheid van 100 MVector per seconde, met onafhankelijke source- en capture-engines en parametrische spanning/stroomfuncties tot maximaal 256 gesynchroniseerde digitale pinnen in een subsysteem. De nieuwe digitale patrooneditor-software (NI Digital Pattern Editor) integreert de bewerkingsomgeving voor device pinmaps, specificaties en patronen voor het sneller ontwikkelen van testen. De ingebouwde hulpmiddelen zoals het multi-site en multi-instrument genereren van patronen bieden de mogelijkheid om naadloos van ontwikkeling naar productie te migreren. Het uitvoeren van karakteriserings- en productietesten met dezelfde PXI-hardware en TestStand-, LabVIEW- en Digital Pattern Editor-software maakt datacorrelatie eenvoudiger en reduceert uiteindelijk de time-to-market.

Beurs WoTS 2016, stand 9B036