Geautomatiseerde LTE testmogelijkheden

Het systeem bestaat uit de LTE Measurement Suite software, de PXIe-5663E en 5673E 6,6 GHz vectorsignaalanalysatoren en een PXI-behuizing met controller. Alle hardware van het systeem kan worden gebruikt voor het testen van gangbare HF- en draadloze standaarden, alsook LTE en andere standaarden van de volgende generatie. Volgens de eerste resultaten realiseert het LTE-testsysteem (RMS EVM) metingen met een modulatienauwkeurigheid van -48 dB en worden geautomatiseerde metingen drie- tot vijfmaal sneller uitgevoerd dan met gebruikelijke instrumenten. Het programma omvat testsoftware voor mobiele communicatiestandaarden, zoals GSM/EDGE en WCDMA/HSPA+ en software voor het testen van vaste/mobiele WiMAX, draadloos LAN, GPS, AM/FM en Bluetooth producten. Het LTE testsysteem vult ook andere HF-producten van National Instruments aan, zoals signaalgeneratoren, signaalanalysatoren, veldsterktemeters, DC- en basisbandinstrumenten. Een softwarematige PXI-configuratie kan worden gecombineerd met meer 1.500 PXI- instrumenten van NI en van circa 70 andere leveranciers, waardoor kan worden voldaan aan de eisen van vrijwel elke testapplicatie.

www.ni.com/rf