Testsoftware

18 januari 2011

Geautomatiseerde LTE testmogelijkheden

Door National Instruments worden Long Term Evolution (LTE) testmogelijkheden toegevoegd aan de HF-testsystemen via de LTE Measurement Suite. Het op software gebaseerde testsysteem is bedoeld voor het testen van 3GPP (3rd Generation Partnership Project) LTE draadloze componenten en onderdelen van subsystemen en mobiele stations.

Het systeem bestaat uit de LTE Measurement Suite software, de PXIe-5663E en 5673E 6,6 GHz vectorsignaalanalysatoren en een PXI-behuizing met controller. Alle hardware van het systeem kan worden gebruikt voor het testen van gangbare HF- en draadloze standaarden, alsook LTE en andere standaarden van de volgende generatie. Volgens de eerste resultaten realiseert het LTE-testsysteem (RMS EVM) metingen met een modulatienauwkeurigheid van -48 dB en worden geautomatiseerde metingen drie- tot vijfmaal sneller uitgevoerd dan met gebruikelijke instrumenten. Het programma omvat testsoftware voor mobiele communicatiestandaarden, zoals GSM/EDGE en WCDMA/HSPA+ en software voor het testen van vaste/mobiele WiMAX, draadloos LAN, GPS, AM/FM en Bluetooth producten. Het LTE testsysteem vult ook andere HF-producten van National Instruments aan, zoals signaalgeneratoren, signaalanalysatoren, veldsterktemeters, DC- en basisbandinstrumenten. Een softwarematige PXI-configuratie kan worden gecombineerd met meer 1.500 PXI- instrumenten van NI en van circa 70 andere leveranciers, waardoor kan worden voldaan aan de eisen van vrijwel elke testapplicatie.

www.ni.com/rf