Capacitieve sensoren

Doorsnedebepaling van boringen

Met het meetsysteem idiamControl van Micro-Epsilon wordt het bepalen van de binnendoorsnede van de boorgaten in behuizingen van dubbelschroefs-extruders aanmerkelijk vereenvoudigd. Op basis van contactloos metende capacitieve wegsensoren is dit meetinstrument speciaal ontwikkeld voor het controleren van gatdoorsneden.

Voor het bepalen van de doorsnedewaarden wordt de sensoreenheid in de boringen van de behuizing van de extruder ingevoerd en tot op het stroomopwaartse einde geschoven. De meettechniek registreert via de tegenoverliggend opgestelde wegsensoren steeds de afstand tot de wand van de boring in de behuizing. De afstandsignalen worden in de controller omgerekend tot doorsnedewaarden. De registratie van de doorsnedewaarden kan door het verdraaien van het rollenkruis met steeds 40° voor in totaal zes meetsporen in een dubbelschroefs-extruder worden uitgevoerd. Daarbij zorgen geleidingsbouten, die langs het zadel van de twee boringen lopen, voor het exact aanhouden van de meetsporen. Bij het terughalen van de sensoreenheid registreert de verwerkingseenheid de doorsnedewaarden en de afgelegde weg en slaat die waarden op. De gegevensoverdracht naar een PC voor archivering en grafische verwerking vindt plaats via een RS-232/USB-interface. De geregistreerde waarden kunnen als doorsnede-informatie over de totale boorlengte worden weergegeven en tolerantie-overschrijdingen kunnen direct worden aangegeven. De meting vindt plaats over de totale lengte van de extruder, waarbij demontage van het verrijdbare deel niet nodig is, hetgeen een aanmerkelijke tijdbesparing oplevert. Het systeem idiamControl is een hulpmiddel voor het optimaliseren van de onderhoudswerkzaamheden aan de extruderbehuizingen. Door een nauwkeurige uitspraak te kunnen doen over de gesteldheid van de boringen in de behuizing op elke gewenste plek kunnen onderhoudsintervallen exact worden gepland.

Meer nieuws van Micro Epsilon BeNeLux
Meer nieuws over capacitieve sensoren
Voorgestelde leveranciers in capacitieve sensoren

Uitgelicht nieuws