Versneld parametrisch testen van halfgeleiders

Maar omdat de merkreputatie van leveranciers op het spel staat, moeten er uitgebreide tests worden uitgevoerd tijdens de ontwikkelingsfase van componenten om de betrouwbaarheid op lange termijn van elk aspect van hun producten te garanderen, die immers consistent moeten functioneren in een groot aantal uitdagende toepassingsomgevingen. Betrouwbaarheidsvalidatie kan een langdurig proces zijn, gebaseerd op Highly Accelerated Stress Testing, waarbij de te testen halfgeleider (DUT) aan extreme omgevingstemperaturen, vochtigheid en mechanische stress wordt blootgesteld. Het doel is ervoor te zorgen dat de component defect raakt – het daarvoor verantwoordelijke mechanisme kan vervolgens worden onderzocht en eventuele problemen kunnen worden verholpen. Tijdens of na elke toegepaste spanningscyclus ondergaat de DUT doorgaans een vorm van parametrisch testen. Deze meting wordt meestal uitgevoerd via Kelvin 4-draadsverbindingen om de weerstand tussen instrument en DUT-verbinding te elimineren. De application note Accelerating Large-scale Semiconductor Parametric Testing Using a Multi-bus Switch Matrix beschrijft hoe de nieuwe schakeloplossingen van Pickering het grootschalige parametrische testen van halfgeleiders kan versnellen met behulp van een multi-bus schakelmatrix. Deze application note kan worden aangevraagd via CNRood.